Ｘ線回折分析法は、試料に含まれている結晶などの原子の配列に関する情報や分子構造を得る分析手法です。
従来のＸ線回折装置は、主に作業環境の遊離ケイ酸やアスベストの分析に使用してきましたが、医薬品や製品の分析にも活用できる多目的Ｘ線回折装置を導入しました。

様々な性状の物質への対応
試料の設置方式が縦型(従来)から水平型に変わることで、液体、クリーム等の粘性試料や極少量の試料でも分析が可能となりました。

高分解能・高速検出器による分析時間短縮
旧式の検出器と比較して約200倍の高速測定が可能とされており、分析時間が大幅に短縮されます。分解能も高いため、ピークの分離能力に優れており、構造解析に最適なデータが得られます。

透過測定法が可能
透過測定法では、様々な格子面から物質本来の回折ピーク情報を得ることができます。特に医薬品の未知試料の構造解析、擬似多形、結晶多形等の評価においては、透過測定法が必須です。