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- 誘導結合プラズマ発光分光分析装置(ICP-AES)
- 誘導結合プラズマ質量分析装置(ICP-MS)
- 原子吸光分析装置(AA)
- イオンクロマトグラフ(IC)
- 分光光度計(VIS)
- 加熱気化原子吸光光度計
- ガスクロマトグラフ(GC)
- 高分解能ガスクロマトグラフ質量分析装置(HG-GC-MS)
- ガスクロマトグラフタンデム型質量分析装置(GC-MS-MS)
- 液体クロマトグラフタンデム型質量分析装置(LC-MS-MS)
- 高速液体クロマトグラフ(HPLC)
- BOD自動測定装置
- COD自動測定装置
- TOC分析装置
- オートアナライザー
- エネルギー分散型Ｘ線マイクロアナライザ(EDX)
- クロスセクションポリッシャ(CP)
- グロー放電発光表面分析装置(GD-OES)
- 電界放出型走査型電子顕微鏡(FE-SEM)
- 位相差分散顕微鏡
- 偏光顕微鏡
- フーリエ変換赤外顕微分光装置(FT-IR)
- 顕微レーザーラマン分光装置(RSS)
- ガスクロマトグラフ質量分析装置(GC-MS)
- 自動研磨装置
- Ｘ線回折装置(XRD)
- 示差熱・熱重量同時測定装置(TG-DTA)
- 示差走査熱量計(DSC)
- マイクロビッカース硬度計
- 塩水噴霧試験機
- 小型熱衝撃装置
- ゲルマニウム半導体検出器
- NaI(TI)シンチレーションスペクトロメーター
- NaI(TI)シンチレーションサーベイメーター
- 安定性試験器
- 溶出試験器
- ゼリー強度試験機
- 旋光度計
- 固体燃焼式TOC計
- ガスクロマトグラフ質量分析装置(GC-MS)
- 高速液体クロマトグラフ(HPLC)
- 分光光度計(UV)
- 誘導結合プラズマ発光分光分析装置(ICP-AES)
- 誘導結合プラズマ質量分析装置(ICP-MS)
- 石英電気炉
- 蛍光分光光度計
- レーザー回析式粒度分布測定装置
- 光安定性試験装置